从“测不准”到“测得准”——纳米级轮廓仪赋能AR自由曲面检测

增强现实（AR）设备中的自由曲面光学元件具有复杂的三维拓扑结构，传统接触式测量易造成损伤，激光扫描又难以捕捉亚纳米级细节，长期依赖德国或日本高精度仪器进行抽检。

广州精点科技推出的国内首创纳米级光学轮廓测量仪器，采用白光干涉+共焦显微双模式融合技术，横向分辨率达0.2μm，垂直分辨率可达0.1nm，在无需镀膜条件下即可完成自由曲面全区域三维重建。

该设备被应用于深圳一家AR光学模组企业的研发中试线，成功解决了自由曲面镜片阵列拼接误差难以溯源的问题。配合自研MES系统，实现“加工—测量—反馈”全流程数字化闭环，新产品试制周期缩短30%。